Скачать ГОСТ CISPR 16-2-3-2016 Требования к аппаратуре для измерения радиопомех и помехоустойчивости и методы измерения. Часть 2-3. Методы измерения радиопомех и помехоустойчивости. Измерения излучаемых помех

Дата актуализации: 01.01.2021

ГОСТ CISPR 16-2-3-2016

Требования к аппаратуре для измерения радиопомех и помехоустойчивости и методы измерения. Часть 2-3. Методы измерения радиопомех и помехоустойчивости. Измерения излучаемых помех

Обозначение: ГОСТ CISPR 16-2-3-2016
Обозначение англ: 16-2-3-2016
Статус:введен впервые
Название рус.:Требования к аппаратуре для измерения радиопомех и помехоустойчивости и методы измерения. Часть 2-3. Методы измерения радиопомех и помехоустойчивости. Измерения излучаемых помех
Название англ.:Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods. Part 2-3. Methods of measurement of disturbances and immunity. Radiated disturbance measurements
Дата добавления в базу:01.02.2017
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.06.2017
Область применения:В стандарте установлены методы измерения излучаемых электромагнитных явлений, относящихся к помехам, в полосе частот от 9 кГц до 18 ГГц.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины, определения и сокращения
4 Типы измеряемых помех
   4.1 Общие положения
   4.2 Типы помех
   4.3 Функции детектора
5 Подключение измерительного оборудования
6 Основные требования к измерениям и условия измерений
   6.1 Общие положения
   6.2 Помехи, не создаваемые ИО
   6.3 Измерение непрерывных помех
   6.4 Размещение ИО и условия измерения
   6.5 Интерпретация результатов измерений
   6.6 Время измерения и скорости сканирования непрерывных помех
7 Измерение излучаемых помех
   7.1 Вводные замечания
   7.2 Измерения в системе рамочных антенн (9 кГц — 30 МГц)
   7.3 Измерения на открытой испытательной площадке или в полубезэховой камере (30 МГц—1 ГГц)
   7.4 Измерения в полностью безэховой камере (РАI) (30 МГц — 1 ГГц)
   7.5 Метод измерения излучаемой электромагнитной эмиссии (30 МГц — 1 ГГц) и метод испытания на помехоустойчивость по отношению к излучаемым помехам (80 МГц — 1 ГГц) при использовании общей испытательной установки в полубезэховой камере
   7.6 Измерения в полностью безэховой камере (FAR) и на открытой испытательной площадке (OATS)/в полубезэховой камере (SAC), покрытых поглощающим материалом (1—18 ГГц)
   7.7 Измерения на месте установки (9 кГц — 18 ГГц)
   7.8 Измерения методом замещения (30 МГц— 18 ГГц)
   7.9 Измерения в реверберационной камере (80 МГц —18 ГГц)
   7.10 Измерения в ТЕМ-волноводе (30 МГц — 18 ГГц)
8 Автоматизированные измерения электромагнитной эмиссии
   8.1 Введение. Основные положения проведения автоматизированных измерений
   8.2 Общая процедура измерения
   8.3 Измерение с предварительным сканированием
   8.4 Сжатие данных
   8.5 Максимизация электромагнитной эмиссии и заключительное измерение
   8.6 Последующая обработка и составление отчета об испытаниях
   8.7 Стратегии измерения электромагнитной эмиссии измерительными приборами с обработкой информации на базе быстрого преобразования Фурье
Приложение А (справочное) Измерение помех при наличии внешней электромагнитной эмиссии
Приложение В (справочное) Применение анализаторов спектра и сканирующих приемников
Приложение С (справочное) Скорости сканирования и время измерения при использовании детектора средних значений
Приложение D (справочное) Разъяснение метода измерения распределения амплитудной вероятности (APD) применительно к испытанию на соответствие нормам
Приложение Е (обязательное) Определение пригодности анализаторов спектра для испытаний на соответствие нормам
Приложение ДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов межгосударственным стандартам
Библиография
Рисунок 1 — Измерение комбинации сигнала непрерывной волны (узкополосного, NB) и импульсного сигнала (широкополосного, BB) с использованием многократных разверток при максимальном удержании
Рисунок 2 — Пример временного анализа
Рисунок 3 — Широкополосный спектр, измеренный пошаговым приемником
Рисунок 4 — Перемежающиеся узкополосные помехи, измеренные с помощью коротких быстрых повторяющихся разверток с функцией максимального удержания для получения картины спектра электромагнитной эмиссии
Рисунок 5 — Принцип измерений тока, наводимого магнитным полем, проводимых в системе рамочных антенн (LAS)
Рисунок 6 — Принцип измерений напряженности электрического поля, проводимых на открытой испытательной площадке (OATS) или в полубезэховой камере (SAC), когда на приемную антенну приходят прямой и отраженный от земли лучи
Рисунок 7 — Геометрия типовой испытательной площадки в полностью безэховой камере (FAR) (a, b, c и e зависят от характеристики камеры)
Рисунок 8 — Типовая испытательная установка для настольного ИО в испытательном объеме полностью безэховой камеры (FAR)
Рисунок 9 — Типовая испытательная установка для напольного ИО в испытательном объеме полностью безэховой камеры (FAR)
Рисунок 10 — Положение опорных плоскостей при калибровке однородного поля (вид сверху)
Рисунок 11 — Испытательная установка для настольного оборудования
Рисунок 12 — Испытательная установка для настольного оборудования (вид сверху)
Рисунок 13 — Испытательная площадка для напольного оборудования
Рисунок 14 — Испытательная установка для напольного оборудования (вид сверху)
Рисунок 15 — Метод измерения на частоте выше 1 ГГц, вертикальная поляризация приемной антенны
Рисунок 16 — Иллюстрация требований к сканированию по высоте для двух разных категорий ИО
Рисунок 17 — Определение переходного расстояния
Рисунок 18 — Геометрия испытательной установки при методе замещения
Рисунок 19 — Процесс, обеспечивающий уменьшение времени измерения
Рисунок 20 — Сканирование устройством с обработкой информации на базе быстрого преобразования Фурье в сегментах
Рисунок 21 — Улучшение частотного разрешения устройством с обработкой информации на базе быстрого преобразования Фурье
Рисунок 22 — Положение CMAD при настольном ИО на OATS или в SAC
Рисунок А.1 — Алгоритм выбора ширины полосы и типа детектора и оцененные погрешности измерения при таком выборе
Рисунок А.2 — Относительная разница в амплитудах излучения на граничных частотах при проведении предварительного испытания
Рисунок А.3 — Помеха, создаваемая немодулированным сигналом (точечная кривая)
Рисунок А.4 — Помеха, создаваемая АМ сигналом (точечная кривая)
Рисунок А.5 — Показание АМ сигнала в функции от частоты модуляции при квазипиковом детекторе в диапазонах В, С и D CISPR
Рисунок А.6 — Показание импульсно-модулированного сигнала (ширина импульса 50 мкс) в функции от частоты повторения импульса при пиковом, квазипиковом детекторах и детекторе средних значений
Рисунок А.7 — Помеха, создаваемая широкополосным сигналом (точечная кривая)
Рисунок А.8 — Немодулированная помеха от ИО (точечная кривая)
Рисунок А.9 — Амплитудно-модулированная помеха от ИО (точечная кривая)
Рисунок А.10 — Увеличение пикового значения при суперпозиции двух немодулированных сигналов
Рисунок А.11 — Определение амплитуды мешающего сигнала с помощью амплитудного соотношения d и коэффициента I [см. Уравнения (А.3) и (А.6)]
Рисунок А.12 — Увеличение среднего показания, измеренного с реальным приемником и рассчитанного по уравнению (А.8)
Рисунок С.1 — Весовая функция импульса 10 мс при детектировании пиковым детектором (PK) и детектором средних значений при показании в пиковых значениях (CISPR AV) и показании не в пиковых значениях (AV): постоянная времени прибора 160 мс
Рисунок С.2 — Весовая функция импульса 10 мс при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений при показании в пиковых значениях (С18РIА\1) и показании не в пиковых значениях (АУ): постоянная времени прибора 100 мс
Рисунок С.3 — Пример весовых функций (импульс 1 Гц) при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений в функции от ширины импульса: постоянная времени прибора 160 мс
Рисунок С.4 — Пример весовых функций (импульс 1 Гц) при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений в функции от ширины импульса: постоянная времени прибора 100 мс
Рисунок D.1 — Пример измерения APD для флюктуирующих помех по методу 1
Рисунок D.2 — Пример измерения APD для флюктуирующих помех по методу 2
Таблица 1 — Минимальное время сканирования с пиковыми и квазипиковыми детекторами для трех диапазонов частот CISPR
Таблица 2 — Применимые полосы частот и документальные ссылки на методы испытаний и испытательные площадки CISPR для испытаний на излучаемую электромагнитную эмиссию
Таблица 3 — Минимальное значение w(wmin)
Таблица 4 — Пример значений W для трех типов антенн
Таблица 5 — Коэффициенты коррекции при горизонтальной поляризации в функции от частоты
Таблица 6 — Рекомендуемые значения высоты антенны для обеспечения приема сигнала (при предварительном сканировании) в полосе частот от 30 до 1000 МГц
Таблица 7 — Минимальные значения времени измерения для четырех диапазонов частот CISPR
Таблица А.1 — Сочетания помех ИО и излучения окружающей среды
Таблица А.2 — Погрешность измерения в зависимости от типа детектора и от комбинации спектров сигналов окружающей среды и помехи
Таблица С.1 — Коэффициенты подавления импульсов и скорости сканирования при ширине полосы видеосигнала 100 Гц
Таблица С.2 — Постоянные времени измерительного прибора и соответствующие значения ширины полосы видеосигнала и максимальные скорости сканирования
Таблица Е.1 — Максимальная разность амплитуд между детектированными сигналами в пиковых и квазипиковых значениях
Разработан: ТК 30 Электромагнитная совместимость технических средств
Филиал ФГУП НИИР-ЛОНИИР
Утверждён:29.03.2016 Межгосударственный Совет по стандартизации, метрологии и сертификации (Inter-Governmental Council on Standardization, Metrology, and Certification 86-П)
20.10.2016 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (1455-ст)
Издан: Стандартинформ (2016 г. )
Нормативные ссылки:
ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016ГОСТ CISPR 16-2-3-2016