1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом "Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" (АО "РНИИ "Электронстандарт")

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 "Электронная компонентная база, материалы и оборудование"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 30 октября 2023 г. N 1302-ст

4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микропроцессорные микросхемы и устанавливает состав параметров и типовых характеристик интегральных микропроцессорных микросхем (далее - микросхемы), подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы конкретных типов при их разработке или пересмотре.

Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов.

Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством.

В настоящем стандарте использована нормативная ссылка на следующий стандарт:

ГОСТ Р 57441 Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров

Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты" за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.

3.1 В настоящем стандарте применены термины по ГОСТ Р 57441, а также следующие термины с соответствующими определениями:

3.1.1 ток нагрузки I_н (I_LD): Значение тока, протекающего в цепи нагрузки интегральной микросхемы.

3.1.2 время умножения t_ум (t_MPL): Интервал времени между входными импульсами и результатом умножения на выходе микросхемы, измеренный на уровне 0,5 или на заданных значениях напряжения.

3.2 В настоящем стандарте применены следующие сокращения:

АЛУ - арифметико-логическое устройство;

И²Л - интегрально-инжекционная логика (структура);

МДП - металл-диэлектрик-полупроводник (структура);

ОЗУ - оперативное запоминающее устройство;

ПЗУ - постоянное запоминающее устройство;

ЭСЛ - эмиттерно-связанная логика (структура).

4.1 Состав параметров микросхем и способ задания норм приведены в таблице 1.

Основные параметры подлежат обязательному включению в ТУ или стандарты на микросхемы конкретных типов:

- количество регистров общего назначения;

- количество каналов обмена;

- скорость обмена информацией с внешними устройствами;

- разрядность регистров общего назначения;

- разрядность адреса;

- разрядность данных;

- разрядность команды (микрокоманды);

- количество команд (микрокоманд); объем адресуемой памяти;

- емкость ОЗУ;

- емкость ПЗУ;

- количество режимов работы;

- количество уровней прерывания;

- потребляемая мощность.

4.3 Параметры-критерии годности микросхем в различных видах испытаний установлены в таблице 2.

4.4 Состав типовых характеристик микросхем установлен в таблице 3.