Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом от 27 декабря 2002 г. N 184-ФЗ "О техническом регулировании", а правила применения национальных стандартов Российской Федерации - ГОСТ Р 1.0-2004 "Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения".

1. Разработан Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП "ВНИИОФИ").

2. Внесен Управлением по метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии.

3. Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15 декабря 2009 г. N 1100-ст.

4. Введен впервые.

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты", а текст изменений и поправок - в ежемесячно издаваемых информационных указателях "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет.

Установленные в стандарте термины, отражающие понятия в области оптического неразрушающего контроля, расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий данной области знания.

Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Некоторые термины сопровождены краткими формами, которые следует применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.

Установленные определения можно при необходимости изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.

В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено, вместо него поставлен прочерк.

Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма - светлым.

В стандарт включены алфавитный указатель содержащихся в нем стандартизованных терминов на русском языке, справочное Приложение А, в котором приведены термины общих физических понятий и технические термины, применяемые при оптическом неразрушающем контроле, и справочное Приложение Б, в котором приведены термины приборов, применяемых при оптическом неразрушающем контроле.

Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий (далее - объекты контроля).

Термины, установленные стандартом, предназначены для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.

2.1. Основные понятия

2.1.1. Оптический неразрушающий контроль; оптический контроль: неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля.

2.1.2. Контраст дефекта: отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них либо их сумме.

2.1.3. Видимость дефекта: отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях.

2.2. Методы оптического неразрушающего контроля

2.2.1. Метод прошедшего оптического излучения; метод прошедшего излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект.

2.2.2. Метод отраженного оптического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля.

2.2.3. Метод рассеянного оптического излучения; метод рассеянного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного от объекта контроля.

2.2.4. Метод собственного оптического излучения; метод собственного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля.

2.2.5. Метод индуцированного оптического излучения; метод индуцированного излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объектом контроля при постороннем воздействии.

2.2.6. Спектральный метод оптического излучения; спектральный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спектра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.7. Когерентный метод оптического излучения; когерентный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.8. Амплитудный метод оптического излучения; амплитудный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации интенсивности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.9. Временной метод оптического излучения; временной метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через объект контроля.

2.2.10. Геометрический метод оптического излучения; геометрический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации направления оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.11. Поляризационный метод оптического излучения; поляризационный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.12. Фазовый метод оптического излучения; фазовый метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации фазы оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

2.2.13. Интерференционный метод оптического излучения; интерференционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины, получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной объектом контроля.

2.2.14. Дифракционный метод оптического излучения; дифракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля.

2.2.15. Рефракционный метод оптического излучения; рефракционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров преломления оптического излучения объектом контроля.

2.2.16. Абсорбционный метод оптического излучения; абсорбционный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения объектом контроля.

2.2.17. Визуально-оптический метод оптического излучения; визуально-оптический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов.

2.2.18. Фотохимический метод оптического излучения; фотохимический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

2.2.19. Оптико-акустический метод оптического излучения; оптико-акустический метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

2.2.20. Фотолюминесцентный метод оптического излучения; фотолюминесцентный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля.

2.2.21. Электрооптический метод оптического излучения; электрооптический метод: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля внешнего электрического поля.

2.2.22. Магнитооптический метод оптического излучения; магнитооптический метод: поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля магнитного поля.

2.2.23. Метод согласованной фильтрации оптического излучения; метод согласованной фильтрации: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра.

2.2.24. Метод разностного оптического изображения; метод разностного изображения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца.

2.2.25. Метод фотоэлектрического оптического излучения; метод фотоэлектрического излучения: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением.

2.2.26. Метод спекл-интерферометрии оптического излучения; метод спекл-интерферометрии: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля.

2.2.27. Метод спекл-структур оптического излучения; метод спекл-структур: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля.

2.2.28. Метод муаровых полос: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров.

2.2.29. Фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия; фотоимпульсный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов оптического излучения, пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения.

2.2.30. Фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия; фотокомпенсационный метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца.

2.2.31. Фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия; фотоследящий метод: метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля.

2.2.32. Голографический метод оптического неразрушающего контроля; голографический метод: -

2.3. Средства оптического неразрушающего контроля

2.3.1. Прибор неразрушающего контроля оптический: система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настройки, предназначенная для оптического неразрушающего контроля.

Примечание. При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора.

2.3.2. Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля; источник излучения: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения объекта контроля.

2.3.3. Оптическая система: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля.

2.3.4. Приемное устройство: часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля.

Примечание. В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и другие приемные устройства.

2.3.5. Оптический дефектоскоп: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий.

2.3.6. Лазерный эллипсометр: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом.

2.3.7. Оптический структуроскоп: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий.

2.3.8. Оптический толщиномер: прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов.

2.4. Освещение объекта контроля

2.4.1. Световое сечение: освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа.

2.4.2. Темное поле: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены.

2.4.3. Светлое поле: освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они расположены.

2.4.4. Стробоскопическое облучение: облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля.

2.4.5. Когерентное облучение: облучение объекта контроля когерентным излучением.

2.4.6. Монохроматическое облучение: -

2.4.7. Полихроматическое облучение: облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением.

2.4.8. Сканирующее облучение: облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования.

2.4.9. Телецентрическое облучение: облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения.

2.4.10. Стигматическое облучение: облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения.

А.1. Спекл-структура: случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения.

А.2. Сканирование: анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора.

Б.1. Эндоскоп: оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей объекта контроля.

Б.2. Оптический компаратор: оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного образца.

Б.3. Субтрактивный видеоанализатор: оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца.

Б.4. Оптический дисдрометр: оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде.