Скачать ГОСТ Р 8.842-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки

Дата актуализации: 01.01.2021

ГОСТ Р 8.842-2013

Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки

Обозначение: ГОСТ Р 8.842-2013
Обозначение англ: GOST R 8.842-2013
Статус:введен впервые
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Instruments for measurement of radiation flux of semiconductor emitter diodes. Verification procedure
Дата добавления в базу:21.05.2015
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.02.2015
Область применения:Стандарт распространяется на средства измерений потока излучения (далее - ПИ) полупроводниковых излучающих диодов - радиометры, используемые в диапазоне длин волн 0,2 - 0,4 мкм в динамическом диапазоне 10-4 - 2 10-2 Вт, и устанавливает методику их поверки. В качестве средств средства измерений ПИ полупроводниковых излучающих диодов используются радиометры-гониометры. Межповерочный интервал – один год.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Операции поверки
4 Средства поверки
5 Требования к квалификации поверителей
6 Требования безопасности
7 Условия поверки
8 Подготовка и проведение поверки
9 Обработка результатов измерений
10 Оформление результатов поверки
Разработан: ФГУП ВНИИОФИ
Утверждён:28.10.2013 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (1287-ст)
Издан: Стандартинформ (2015 г. )
Стандартинформ (2019 г. )
Нормативные ссылки:
ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013ГОСТ Р 8.842-2013