Скачать МИ 1730-87 Государственная система обеспечения единства измерений. Погрешности косвенных измерений характеристик процессов. Методы расчета
Дата актуализации: 01.01.2021
МИ 1730-87
Государственная система обеспечения единства измерений. Погрешности косвенных измерений характеристик процессов. Методы расчета
| Обозначение: | МИ 1730-87 |
| Обозначение англ: | MI 1730-87 |
| Статус: | действует |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Погрешности косвенных измерений характеристик процессов. Методы расчета |
| Дата добавления в базу: | 01.10.2014 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Область применения: | Методические указания распространяются на нормативно-техническую документацию, регламентирующую проведение аттестации методик выполнения косвенных измерений (МВИ) математического ожидания и среднего квадратического отклонения случайных стационарных эргодических процессов, и устанавливает основные положения определения характеристик погрешности измерений при условии, что параметры исследуемого процесса определяются путем обработки результатов прямых измерений мгновенных значений процессов, функционально связанных с исследуемым процессом. |
| Оглавление: | 1. Общие положения 2. Расчет характеристик погрешности измерений математического ожидания процесса при линейной функциональной зависимости 3. Расчет характеристик погрешности измерений среднего квадратического отклонения процесса при линейной функциональной зависимости 4. Расчет характеристик погрешности измерений математического ожидания процесса при нелинейной функциональной зависимости 5. Расчет характеристик погрешности измерений среднего квадратического отклонения процесса при нелинейной функциональной зависимости. Приложение 1 Справочное. Проверка необходимости учета влияния корреляций при расчете характеристик погрешности измерений параметров процесса |
| Утверждён: | ВНИИМС (VNIIMS ) |
| Нормативные ссылки: |
МИ 1317-2004 «Рекомендация. Государственная система обеспечения единства измерений. Результаты и характеристики погрешности измерений. Формы представления. Способы использования при испытаниях образцов продукции и контроле их параметров»