Скачать ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схемДата актуализации: 01.06.2025  ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
| Обозначение: | ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем | | Название англ.: | Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits | | Дата актуализации текста: | 06.04.2015 | | Дата актуализации описания: | 01.01.2021 | | Дата издания: | 27.04.2001 | | Дата введения: | 01.07.2002 | | Код ОКП: | 633000 | | Аутентичен стандартам: | IEC 60748-11-1(1992) | | Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов | |
                            
|