| Обозначение: |   ГОСТ Р 57394-2017 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность |
| Название англ.: | Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation |
| Дата актуализации текста: | 05.05.2017 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 17.04.2017 |
| Дата введения: | 01.01.2018 |
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ 20.57.406;ГОСТ 27.002;ГОСТ 16504;ГОСТ 18725 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации |
|
|
