Скачать ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Информационная система МЕГАНОРМ

База постоянно обновляется

Скачать базу целиком

Скачать ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Дата актуализации: 01.06.2019

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Обозначение: ГОСТ Р 8.698-2010
Статус:действующий
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.06.2019
Дата издания:11.05.2010
Дата введения:31.08.2010
Дата последнего изменения:12.09.2018
Область применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра:
- максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм;
- общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.
Настоящий стандарт распространяется на:
- материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды;
- многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках
ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010ГОСТ Р 8.698-2010

Большая сборка документов
 
 
       

meganorm.ru

2015-2019