Скачать ГОСТ 20.57.406-81 Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний
Дата актуализации: 01.01.2024
ГОСТ 20.57.406-81
Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний
| Обозначение: | ГОСТ 20.57.406-81 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Комплексная система контроля качества. Изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические. Методы испытаний |
| Название англ.: | Complex quality control system. Electronic, quantum electronic and electrotechnical components. Test methods |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.10.2005 |
| Дата введения: | 01.01.1982 |
| Нормативные ссылки: |  ГОСТ 8.002-86;ГОСТ 8.051-81;ГОСТ 8.513-84;ГОСТ 9.048-89;ГОСТ 9.083-78;ГОСТ 9.707-81;ГОСТ 12.1.004-91;ГОСТ 12.1.005-88;ГОСТ 12.1.019-79;ГОСТ 12.1.033-81;ГОСТ 12.2.006-87;ГОСТ 12.2.021-76;ГОСТ 1770-74;ГОСТ 2874-82;ГОСТ 2918-79;ГОСТ 3022-80;ГОСТ 4233-77;ГОСТ 5197-85;ГОСТ 5583-78;ГОСТ 5915-70;ГОСТ 5927-70;ГОСТ 6613-86;ГОСТ 6709-72;ГОСТ 8050-85;ГОСТ 8273-75;ГОСТ 8865-93;ГОСТ 9293-74;ГОСТ 9805-84;ГОСТ 10157-79;ГОСТ 11109-90;ГОСТ 11371-78;ГОСТ 14254-96;ГОСТ 15150-69;ГОСТ 17433-80;ГОСТ 18300-87;ГОСТ 18620-86;ГОСТ 19113-84;ГОСТ 20448-90;ГОСТ 21179-2000;ГОСТ 21930-76;ГОСТ 21931-76;ГОСТ 22782.0-81;ГОСТ 22782.1-77;ГОСТ 22782.2-77;ГОСТ 22782.3-77;ГОСТ 22782.4-78;ГОСТ 22782.5-78;ГОСТ 22782.6-81;ГОСТ 22782.7-81;ГОСТ 23088-80;ГОСТ 23216-78;ГОСТ 23844-79;ГОСТ 24555-81;ГОСТ 24683-81;ГОСТ 25336-82;ГОСТ 27597-88;ГОСТ 28211-89;ГОСТ 30668-2000;СТ СЭВ 781-86;СТ СЭВ 1341-87;СТ СЭВ 1342-87;СТ СЭВ 1343-78;СТ СЭВ 1344-87;СТ СЭВ 1456-88;СТ СЭВ 1457-85;СТ СЭВ 1458-86;СТ СЭВ 2010-79;СТ СЭВ 2119-80;СТ СЭВ 2727-80;СТ СЭВ 2728-80;СТ СЭВ 2730-89;СТ СЭВ 2731-80;СТ СЭВ 3222-81;СТ СЭВ 3688-82;СТ СЭВ 5121-85;СТ СЭВ 5244-85;СТ СЭВ 5358-85;СТ СЭВ 5359-85;СТ СЭВ 6698-89;МИ 1826-88;ТУ 38-407-242-83;ТУ 38.401-67-108-92 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на изделия электронной техники, квантовой электроники и электротехнические, и устанавливает методы испытаний на воздействие механических, климатических, биологических внешних воздействующих факторов и специальных сред и методы оценки соответствия конструктивным требованиям |
| Список изменений: | №1 от 01.01.1982 (рег. 22.12.1981) «Срок действия продлен» №2 от 01.01.1983 (рег. 25.03.1982) «Срок действия продлен» №3 от 01.07.1984 (рег. 27.10.1983) «Срок действия продлен» №4 от 01.01.1987 (рег. 24.04.1986) «Срок действия продлен» №5 от 01.07.1987 (рег. 30.10.1986) «Срок действия продлен» №6 от 01.01.1988 (рег. 06.05.1987) «Срок действия продлен» №7 от 01.07.1988 (рег. 14.06.1988) «Срок действия продлен» №8 от 01.01.1989 (рег. 16.06.1988) «Срок действия продлен» №9 от 01.01.1990 (рег. 21.12.1989) «Срок действия продлен» №10 от 01.07.1991 (рег. 27.04.1990) «Срок действия продлен» |
