Скачать ГОСТ 19834.3-76 Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения

Дата актуализации: 01.01.2021

ГОСТ 19834.3-76

Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения

Обозначение: ГОСТ 19834.3-76
Обозначение англ: GOST 19834.3-76
Статус:действует
Название рус.:Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Название англ.:Semiconductor emitters. Methods of measurement for relative spectral energy distribution and spectral bandwidth
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.07.1977
Область применения:Стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения.
Оглавление:1а Принцип и режим измерения
1 Аппаратура
2 Подготовка и проведение измерений
3 Обработка результатов
4 Показатели точности измерений
Приложение 1 (справочное) Информационные данные
Приложение 2 (рекомендуемое) Аппаратура для измерения спектрального состава излучения полупроводниковых излучателей
Приложение 3 (рекомендуемое) Зависимость относительной спектральной плотности излучения образцового источника е лямбда 0 от длины волны лямбда
Утверждён:13.04.1976 Госстандарт СССР (USSR Gosstandart 810)
Издан: Издательство стандартов (1984 г. )
Нормативные ссылки:
ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76ГОСТ 19834.3-76