Скачать ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Дата актуализации: 01.01.2021
ГОСТ Р 8.697-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
| Обозначение: | ГОСТ Р 8.697-2010 |
| Обозначение англ: | GOST R 8.697-2010 |
| Статус: | введен впервые |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
| Дата добавления в базу: | 01.09.2013 |
| Дата актуализации: | 01.01.2021 |
| Дата введения: | 01.09.2010 |
| Область применения: | Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения. |
| Оглавление: | 1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Требования к погрешности измерений 5 Средства измерений и вспомогательные устройства 6 Метод измерений 7 Требования безопасности 8 Требования к квалификации операторов 9 Условия измерений 10 Подготовка и проведение измерений 11 Обработка результатов измерений 12 Контроль погрешности результатов измерений 13 Оформление результатов измерений Библиография |
| Разработан: | ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет) ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт |
| Утверждён: | 10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (11-ст) |
| Издан: | Стандартинформ (2010 г. ) Стандартинформ (2019 г. ) |
| Нормативные ссылки: |
|
ГОСТ 12.1.005-88 «Система стандартов безопасности труда. Общие санитарно-гигиенические требования к воздуху рабочей зоны»
