Скачать ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

Дата актуализации: 01.01.2021

ГОСТ 8.594-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

Обозначение: ГОСТ 8.594-2009
Обозначение англ: GOST 8.594-2009
Статус:введен впервые
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Scanning electron microscopes. Method for verification
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:01.01.2021
Дата введения:01.11.2010
Область применения:Стандарт распространяется на растровые электронные микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 в степени минус девять до 10 в степени минус шесть м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Операции и средства поверки
5 Требования к квалификации поверителей
6 Требования безопасности
7 Условия поверки и подготовка к ней
8 Проведение поверки
9 Обработка результатов измерений
10 Оформление результатов поверки
Разработан: ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
Утверждён:11.11.2009 Межгосударственный Совет по стандартизации, метрологии и сертификации (Inter-Governmental Council on Standardization, Metrology, and Certification 36)
05.04.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (58-ст)
Издан: Стандартинформ (2010 г. )
Нормативные ссылки:
ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009ГОСТ 8.594-2009