| Обозначение: |   ГОСТ 24523.1-2021 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Периклаз электротехнический. Метод определения оксида кремния (IV) |
| Название англ.: | Electrotechnical periclase. Method for determination of silicon (IV) dioxide |
| Дата актуализации текста: | 01.01.2024 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата регистрации: | 30.06.2021 |
| Дата издания: | 30.08.2021 |
| Дата введения: | 01.11.2021 |
| Взамен: |  ГОСТ 24523.1-80 |
| Нормативные ссылки: | ГОСТ 61;ГОСТ OIML R 76-1;ГОСТ 83;ГОСТ 1770;ГОСТ 3118;ГОСТ 3765;ГОСТ 4199;ГОСТ 4204;ГОСТ 5817;ГОСТ 6563;ГОСТ 6709;ГОСТ Р 58144-2018;ГОСТ 9147;ГОСТ 9428;ГОСТ ИСО/МЭК 17025;ГОСТ 24104;ГОСТ Р 53228-2008;ГОСТ 24523.0;ГОСТ 25336;ГОСТ 29227 |
| Область применения: | Настоящий стандарт распространяется на электротехнический периклаз и устанавливает фотометрический метод определения оксида кремния (IV) при массовой доле от 0,2 % до 3,0 % |
| Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 24523.1-2021 |
|
|
