| Обозначение: |   ГОСТ 4.64-80 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
| Название англ.: | Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
| Дата актуализации текста: | 06.04.2015 |
| Дата актуализации описания: | 01.07.2023 |
| Дата издания: | 01.02.1985 |
| Дата введения: | 01.07.1981 |
| Код ОКП: | 177000 |
| Область применения: | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
| Список изменений: | №1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен» |
|
|
